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[发明专利]瑞利散射光强度的确定方法、装置和存储介质-CN201911243385.3在审
发明人：曹晓建;何志敏;张灏文;朱松林 -专利权人：中兴通讯股份有限公司
申请日： 2019-12-06 - 公布日： 2021-06-08 - 主分类号： G01D5/353 文献下载
摘要：本申请提出一种瑞利散射光强度的确定方法、装置和存储介质，一种瑞利散射光强度的确定方法包括：确定光纤的第一测试位置处的反射装置的反射光功率，根据反射光功率以及预先确定的反射光功率与瑞利散射光功率的比例关系，确定第一测试位置的瑞利散射光功率，实现了通过测量第一测试位置的反射光功率确定第一测试位置的瑞利散射光功率，由于反射信号的强度远高于瑞利散射信号强度，因此，可以比较容易测量第一位置处的反射装置的反射光功率，再通过反射光功率确定瑞利散射光功率，既简化了测试，同时，信噪比也会有较大提升，提高了测量的精度。
瑞利散射强度确定方法装置存储介质

[发明专利]硅光子芯片光功率测量装置、设备、系统及测量方法-CN202010002907.7在审
发明人：田桂霞;洪小刚;陈奔;王洁;冯振阳 -专利权人：亨通洛克利科技有限公司
申请日： 2020-01-02 - 公布日： 2020-04-03 - 主分类号： G02B6/42 文献下载
摘要：本发明公开了一种硅光子芯片光功率测量装置、设备、系统及测量方法，硅光子芯片上设有硅光波导，测量装置包括光反射部件，配置于硅光波导出射光的传输路径上，硅光波导的出射光经光反射部件反射后产生反射光；光整形部件，配置于反射光的传输路径上，用于将发散的反射光集束后输出；光功率探测器，用于接收光整形部件输出的反射光光束，并测量反射光光束的光功率。本发明通过光反射部件将硅光波导的出射光反射进入空气，再通过光整形部件将发散的反射光调整为光束后输出，然后通过光功率探测器接收并测量出反射光光束的光功率，以此，在不损伤硅光子芯片结构的前提下，精确有效地测量出硅光子芯片的出光功率，实现硅光子芯片晶圆级出光性能测试。
光子芯片功率测量装置设备系统测量方法

[实用新型]硅光子芯片光功率测量装置、设备及系统-CN202020004357.8有效
发明人：田桂霞;洪小刚;陈奔;王洁;冯振阳 -专利权人：亨通洛克利科技有限公司
申请日： 2020-01-02 - 公布日： 2020-08-11 - 主分类号： G02B6/42 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种硅光子芯片光功率测量装置、设备及系统，硅光子芯片上设有硅光波导，测量装置包括光反射部件，配置于硅光波导出射光的传输路径上，硅光波导的出射光经光反射部件反射后产生反射光；光整形部件，配置于反射光的传输路径上，用于将发散的反射光集束后输出；光功率探测器，用于接收光整形部件输出的反射光光束，并测量反射光光束的光功率。本实用新型通过光反射部件将硅光波导的出射光反射进入空气，再通过光整形部件将发散的反射光调整为光束后输出，然后通过光功率探测器接收并测量出反射光光束的光功率，以此，在不损伤硅光子芯片结构的前提下，精确有效地测量出硅光子芯片的出光功率，实现硅光子芯片晶圆级出光性能测试。
光子芯片功率测量装置设备系统

[发明专利]硅光子芯片光功率测量装置、设备及测量方法-CN202010001447.6有效
发明人：田桂霞;洪小刚;陈奔;沈笑寒;郭倩 -专利权人：亨通洛克利科技有限公司;江苏亨通光网科技有限公司
申请日： 2020-01-02 - 公布日： 2023-08-04 - 主分类号： G02B6/42 文献下载
摘要：本发明公开了一种硅光子芯片光功率测量装置，硅光子芯片光功率测量装置、设备及测量方法，硅光子芯片上设有硅光波导，硅光子芯片光功率测量装置包括光反射部件，其配置于硅光波导出射光的传输路径上，硅光波导的出射光经光反射部件反射产生反射光；光传导部件，其配置于反射光的传输路径上，用于轴向传输反射光至其端部输出；光功率探测器，其用于接收光传导部件端部输出的反射光，并测量反射光的光功率，本发明在不损伤硅光子芯片结构的前提下，精确有效地测量出硅光子芯片的出光功率，实现硅光子芯片晶圆级出光性能测试。
光子芯片功率测量装置设备测量方法

[发明专利]光功率控制系统、控制方法及激光多普勒测速仪-CN201610273992.4有效
发明人：文雪峰;陈浩玉;汤铁钢;莫俊杰;金山;张茹;蒲国红 -专利权人：中国工程物理研究院流体物理研究所
申请日： 2016-04-28 - 公布日： 2018-04-17 - 主分类号： G01S17/58 文献下载
摘要：本发明涉及光电瞬态测试技术领域，提供一种光功率控制系统、控制方法及激光多普勒测速仪，该光功率控制系统包括光功率参考值输入模块、反射光功率检测模块、控制器、光功率调节模块。本发明提出的技术方案中的发射光功率能够根据反射光功率变化进行动态调节，使反射光功率恒定且与参考光功率相等或保持固定比例，使反射光与参考光耦合干涉信号幅值稳定、基线稳定，能够保证被测物能够返回足够功率的光，提高测试信号的质量，提高信号信噪比，同时还能够抑制因为反射光太弱导致的信号丢失现象，提高测试可靠性。
功率控制系统控制方法激光多普勒测速

[实用新型]光功率控制系统及激光多普勒测速仪-CN201620372942.7有效
发明人：文雪峰;陈浩玉;汤铁钢;莫俊杰;金山;张茹;蒲国红 -专利权人：中国工程物理研究院流体物理研究所
申请日： 2016-04-28 - 公布日： 2016-12-28 - 主分类号： G01S17/58 文献下载
摘要：本实用新型涉及光电瞬态测试技术领域，提供一种光功率控制系统及激光多普勒测速仪，该光功率控制系统包括光功率参考值输入模块、反射光功率检测模块、控制器、光功率调节模块。本实用新型提出的技术方案中的发射光功率能够根据反射光功率变化进行动态调节，使反射光功率恒定且与参考光功率相等或保持固定比例，使反射光与参考光耦合干涉信号幅值稳定、基线稳定，能够保证被测物能够返回足够功率的光，提高测试信号的质量，提高信号信噪比，同时还能够抑制因为反射光太弱导致的信号丢失现象，提高测试可靠性。
功率控制系统激光多普勒测速

[发明专利]一种具有校准功能的一维光晶格产生装置及产生方法-CN202210263967.3在审
发明人：武寄洲;蹇君;刘文良;李玉清;马杰 -专利权人：山西大学
申请日： 2022-03-17 - 公布日： 2023-09-22 - 主分类号： G02B27/30 文献下载
摘要：本发明公开一种具有校准功能的一维光晶格产生装置及产生方法，包括：激光入射单元、科学腔、反射单元以及可拆卸设置的光路重合校准单元，光路重合校准单元包括第四偏振分光棱镜、第四半波片、第五半波片以及光功率探头，第四半波片、第四偏振分光棱镜以及第五半波片依次设置在激光入射单元的激光路径上，光功率探头设置在第四偏振分光棱镜的反射路径上；调节第四半波片以及第五半波片，反射光在经过第四偏振分光棱镜时进行反射，光功率探头能够接收反射光，通过调整反射单元使反射光角度发生变化，反射光角度的变化会直接影响光功率探头接收的反射光的强度，当光功率探头检测光强度最强时，则入射光和反射光的重合度最高。
一种具有校准功能一维光晶格产生装置方法

[实用新型]硅光子芯片光功率测量装置及设备-CN202020002646.4有效
发明人：田桂霞;洪小刚;陈奔;沈笑寒;郭倩 -专利权人：亨通洛克利科技有限公司
申请日： 2020-01-02 - 公布日： 2020-08-11 - 主分类号： G02B6/42 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种硅光子芯片光功率测量装置及设备，硅光子芯片上设有硅光波导，硅光子芯片光功率测量装置包括光反射部件，其配置于硅光波导出射光的传输路径上，硅光波导的出射光经光反射部件反射产生反射光；光传导部件，其配置于反射光的传输路径上，用于轴向传输反射光至其端部输出；光功率探测器，其用于接收光传导部件端部输出的反射光，并测量反射光的光功率，本实用新型在不损伤硅光子芯片结构的前提下，精确有效地测量出硅光子芯片的出光功率，实现硅光子芯片晶圆级出光性能测试。
光子芯片功率测量装置设备

[发明专利]一种SR4光模块发射功率的监控系统和监控方法-CN201710935316.3在审
发明人：雷奖清;林星 -专利权人：昂纳信息技术(深圳)有限公司
申请日： 2017-10-10 - 公布日： 2018-01-09 - 主分类号： H04B10/071 文献下载
摘要：本发明涉及光收发器领域，具体涉及一种SR4光模块发射功率的监控系统和监控方法，包括发射装置和监测装置，发射装置发出输入光束，监测装置接收反射光束，监控系统还包括反射装置、主控装置和倾斜的光纤端面；发射装置发出输入光束至反射装置，反射装置将输入光束反射至光纤端面，光纤端面反射部分反射光束至反射装置，反射装置将反射光束反射至监测装置，监测装置检测反射光束的功率参数，并将反射光束的功率参数发送至主控装置，主控装置根据反射光束的功率参数控制发射装置的发射功率本发明通过检测反射光束控制发射装置的发射功率，实现对SR4光模块发射功率的直接监控，避免随着SR4光模块老化或温度变化影响发射功率监控准确度。
一种 sr4 模块发射功率监控系统方法

[实用新型]一种SR4光模块发射功率的监控系统-CN201721311172.6有效
发明人：雷奖清;林星 -专利权人：昂纳信息技术(深圳)有限公司
申请日： 2017-10-10 - 公布日： 2018-06-22 - 主分类号： H04B10/071 文献下载
摘要：本实用新型涉及光收发器领域，具体涉及一种SR4光模块发射功率的监控系统，包括发射装置和监测装置，发射装置发出输入光束，监测装置接收反射光束，监控系统还包括反射装置、主控装置和倾斜的光纤端面；发射装置发出输入光束至反射装置，反射装置将输入光束反射至光纤端面，光纤端面反射部分反射光束至反射装置，反射装置将反射光束反射至监测装置，监测装置检测反射光束的功率参数，并将反射光束的功率参数发送至主控装置，主控装置根据反射光束的功率参数控制发射装置的发射功率本实用新型通过检测反射光束控制发射装置的发射功率，实现对SR4光模块发射功率的直接监控，避免随着SR4光模块老化或温度变化影响发射功率监控准确度。
反射光束发射功率反射装置监测装置光模块发射装置功率参数光纤端面监控系统输入光束主控装置反射控制发射装置本实用新型温度变化影响光收发器准确度监控检测发送老化

[发明专利]用于检测过滤器积尘的传感器及方法-CN201710853727.8有效
发明人：高波 -专利权人：安费诺（常州）连接系统有限公司
申请日： 2017-09-20 - 公布日： 2023-08-04 - 主分类号： G01N21/55 文献下载
摘要：本发明涉及一种用于检测过滤器积尘传感器及方法，该方法包括如下步骤：提供入射光线并向过滤器表面照射；接收所述过滤器表面反射的反射光并得到反射光功率；利用不同的两个入射光功率的光线在所述过滤器表面的光谱反射率相等计算得出反射立体角补偿值，并通过所述反射立体角补偿值对所得到的反射光功率进行补偿，从而得到补偿后反射光功率；以及利用所述的补偿后的反射光功率和所述入射光线的功率计算得出对应的光谱反射率，进而判断得出所述过滤器表面的积尘程度。通过相邻两次不同功率的入射光线得到反射立体角补偿值，进而对反射光功率进行补偿，提高了计算的光谱反射率的准确度，使得检测积尘的结果更加准确。
用于检测过滤器传感器方法

[发明专利]光模块的控制装置、方法及光发射装置-CN201010149208.1有效
发明人：崔平 -专利权人：中兴通讯股份有限公司
申请日： 2010-04-15 - 公布日： 2010-09-15 - 主分类号： H04B10/02 文献下载
摘要：本发明提供一种光模块的控制装置、方法及光发射装置，其中控制装置与一光模块连接，所述光模块具有用于发射光波的光功率发射单元；该控制装置包括：第一检测模块，用于在所述光模块的传输所述光波的出纤光纤出现受损面时，获取所述受损面上的反射光波的反射光功率；第二检测模块，用于将所述反射光功率与一设定功率阈值比较，若所述反射光功率大于所述功率阈值，则产生第一比较结果；控制模块，用于根据所述第一比较结果产生第一控制信号，并根据该第一控制信号关断所述光模块的光功率发射单元。本发明的方案在光模块的出纤光路的光纤出现断裂或者损伤时，可避免反射光波产生的危害。
模块控制装置方法发射

[发明专利]投影系统及画面亮度的调整方法-CN202010615588.7有效
发明人：葛明星;陈龙 -专利权人：无锡视美乐激光显示科技有限公司
申请日： 2020-06-29 - 公布日： 2023-07-14 - 主分类号： G03B21/20 文献下载
摘要：本发明提供了一种投影系统及画面亮度的调整方法，包括：光调节器用于对光源发生器发出的光进行分向反射，得到第一反射光和第二反射光，第一反射光可进入投影镜头进行成像；探测器设置于第二反射光的传播方向，用于探测第二反射光的功率，并将探测得到的功率发送至光源控制器；光源控制器与探测器连接，用于接收探测器发送的功率，基于功率确定光源的目标功率，并控制光源发生器发出目标功率的光。本发明的投影系统中，光源发生器发出的光的功率可调，当低亮度画面输出时，可以降低光源发生器发出光的功率，进而提高了光源的利用率，并且通过调节光源发生器发出的光的功率，还能实现画面亮度的调整。
投影系统画面亮度调整方法

[发明专利]用于控制激光发射单元的功率的方法及相关装置-CN201510032398.1在审
发明人：齐孝元;张胜智 -专利权人：联发科技股份有限公司
申请日： 2015-01-22 - 公布日： 2015-09-09 - 主分类号： G11B7/126 文献下载
摘要：本发明提供一种用于控制激光发射单元的功率的方法及相关装置。该方法包含：从一对象接收反射光，其中所述对象反射从所述激光发射单元发射的光；确定所述反射光的功率；以及通过参照所述反射光的功率位准来确定控制信号，以控制所述激光发射单元的功率。本发明可节省制造成本，准确地补偿激光二极管的功率。
用于控制激光发射单元功率方法相关装置

[发明专利]自动行走设备、其避障方法及装置-CN201811456314.7有效
发明人：张晓骏;兰彬财;孙明智 -专利权人：宝时得科技(中国)有限公司
申请日： 2018-11-30 - 公布日： 2022-03-18 - 主分类号： G05D1/02 文献下载
摘要：本申请公开一种自动行走设备、其避障方法及装置，通过所述光发射单元向障碍物发射光信号；通过所述光接收单元接收所述障碍物反射回来的反射光信号；并检测所述反射回来的反射光信号的强度是否在预设的阈值范围内，如果不在，则调整所述光电传感器的发射光信号强度。实现了根据反射光信号的强度调节发射功率，避免发射功率造成的能源浪费，并且提高了障碍物检测的准确性。根据反射光信号的强度调整发射功率，避免发射功率过小导致反射信号过弱而误判为没有障碍物。
自动行走设备方法装置

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